超导微波谐振器中失真的局部全器件扫描
超导电性
2018-07-04 v2
摘要
利用近场微波技术，制作了 Tl2Ba2CaCu2O8 和 YBa2Cu3O7 薄膜微波谐振器的二阶和三阶互调失真 (IMD) 的二维图像。发现二阶和三阶 IMD 不具有相同的空间分布，这表明物理机制在它们的产生中扮演不同角色。该技术使得研究这些机制的作用成为可能。作为示例，描述了两阶对磁通子 (fluxons) 的敏感性，其中二阶对磁通子密度更敏感。
引用
@article{arxiv.1709.03025,
title = {Local Whole-Device Scanning of Distortion in Superconducting Microwave Resonators},
author = {S. K. Remillard and A. E. Wormmeester and R. A. Huizen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.03025},
year = {2018}
}