利用纳米聚焦相干 X 射线探测半晶 P3HT 薄膜的局部结构
软凝聚态物质
2015-04-29 v1
摘要
我们展示了使用纳米聚焦 X 射线束研究半晶聚合物薄膜结构性质的结果。我们将 X 射线交叉关联分析 (XCCA) 应用于嵌入金纳米颗粒 的聚(3-己基噻吩) (P3HT) 共混物的散射数据。晶畴取向分布的空间分辨图使我们能够区分以面朝上 形态为主的样品区域，并观察到向边朝上 形态的连续转变。测定晶畴的平均尺寸在 10 nm 量级。与纯 P3HT 薄膜相比，P3HT/AuNPs 共混物的特征是晶畴具有显著的有序性，这可能是由金纳米颗粒诱导的。使用 XCCA 获得的空间分辨纳米级二维图清晰地可视化了聚合物薄膜的非均匀结构。我们的结果表明，在晶区中观察到的聚合物基质的变化可归因于金纳米颗粒存在下的纳米限域效应。
引用
@article{arxiv.1411.1133,
title = {Local structure of semicrystalline P3HT films probed by nanofocused coherent x-rays},
author = {Ruslan P. Kurta and Linda Grodd and Eduard Mikayelyan and Oleg Y. Gorobtsov and Ivan A. Zaluzhnyy and Ilaria Fratoddi and Iole Venditti and Maria Vittoria Russo and Michael Sprung and Ivan A. Vartanyants and S. Grigorian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.1133},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 6 figures, 53 references