约瑟夫森结在腔共振附近的电磁辐射线宽

最近在高 Tc 铜氧化物超导体中检测到了来自本征约瑟夫森结的强大太赫兹辐射。几何腔共振的激发增强了不同结的同步性。辐射的一个关键特征是其线宽。在这项工作中，我们研究了内部腔共振附近辐射的本征线宽。令人惊讶的是，此前从未有人考虑过这个问题，无论是针对单个约瑟夫森结，还是针对铜氧化物超导体中实现的本征约瑟夫森结堆栈。线宽的出现是由于慢相位扩散，这由耗散和噪声幅度决定。我们发现，当激发腔模时，这两个参数都会发生共振增强，但耗散的增强占主导地位，导致扩散受到净抑制以及线宽的显著变窄。当约瑟夫森频率偏离共振或温度升高时，线型会从洛伦兹型变为高斯型。