闪烁噪声对石墨烯测辐射热响应的限制
介观与纳米尺度物理
2015-02-11 v1
摘要
我们利用近场和远场配置的扫描光电流显微镜研究了石墨烯场效应晶体管的光响应，发现石墨烯在远离接触的源漏偏置电压下的响应由激光诱导加热引起的测辐射热效应主导。我们发现光电流在高达100 kHz的光学调制频率下没有显著变化。尽管测辐射热电流的幅度随偏置电压缩放，但它也产生噪声。该噪声的频率依赖性表明其具有1/f特性，随偏置电压缩放，并限制了低光功率下可探测的测辐射热光响应。
引用
@article{arxiv.1502.02878,
title = {Limits on the Bolometric response of Graphene due to flicker noise},
author = {Sameer Grover and Sudipta Dubey and John P. Mathew and Mandar M. Deshmukh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1502.02878},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 4 figures