四代标准模型中B_s^0系统的大时间依赖CP破坏与有限的D^0-D^0bar质量差
高能物理 - 唯象学
2008-11-26 v4
摘要
结合测量的B_s混合与b→sℓ⁺ℓ⁻衰变率数据，我们发现允许存在可观的第四代t'夸克效应，例如m_{t'}∼300 GeV且V_{t's}^*V_{t'b}∼0.025 e^{±i 70°}，这可能是b→s qqbar跃迁CP破坏研究中新物理迹象的基础。在正相位下，预言了B_s系统中大的、负的混合依赖CP破坏，sin 2Φ_{B_s}∼-0.5至-0.7。这也可以通过宽度差方法进行探测。作为推论，发现短距离产生的D^0-D^0bar质量差与最近的B工厂测量结果一致（如果不略高的话），而CP破坏受到抑制，sin 2Φ_D∼-0.2。
关键词
引用
@article{arxiv.hep-ph/0610385,
title = {Large Time-dependent CP Violation in B_s^0 System and Finite D^0-D^0bar Mass Difference in Four Generation Standard Mode},
author = {Wei-Shu Hou and Makiko Nagashima and Andrea Soddu},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0610385},
year = {2008}
}
备注
5 pages, 3 figures added (to total of 11 figures), revision to clarify b -> s photon contrast with Bs and D mixing