手征理论中的Kaon弱衰变

十个非轻子弱衰变过程$K \to 2\pi$、$K \to 3\pi$、$K_L \to 2\gamma$、$K_S \to 2\gamma$、$K_L \to \pi^\circ 2\gamma$，由一个基于线性sigma模型理论的手征极点模型进行了预言，该模型自动满足轴矢流部分守恒（PCAC）假设。这些预言与数据在5%的水平内一致，且不包含或仅包含一个自由参数，并与手征微扰论（ChPT）的结果进行了比较。后者在单圈水平上至少包含四个自由参数，并且预言的$K_L \to \pi^\circ \gamma\gamma$衰变率比实验值低60%。这表明ChPT在预言Kaon弱衰变方面不是一个令人满意的方法。