金-塔尔效应在金刚石样糖 film 中的研究

半理论地用于分析掺杂Si衬底上金刚石样糖 film的紫外-可见光谱。通过对典型film的紫外-可见吸收光谱进行分解，发现不同的吸收线。对于每个样品，鉴别出与$\V^\circ$通过金-塔尔效应相关的六条吸收线。我们基于将$\V^\circ$畸变视为film应力的结果进行的理论方法，与实验结果一致。发现金-塔尔线向$\V^\circ$的零光子线位移，随着film应力减小而发生。讨论了室温与低温光谱之间的差异。我们发现，受应力作用的film中$\V^\circ$激发态的分裂大小是基态分裂的两倍。