$\pi \pi$ 散射振幅中的同位旋破坏 I：$\pi$ 介子质量差异导致的效应

这是一系列致力于详细分析 $\pi \pi$ 散射振幅和 $\pi$ 介子矢量形状因子中同位旋破坏效应的论文的第一篇。同位旋破坏源于上夸克与下夸克之间的质量差异以及电磁效应。后者可以进一步分为由 $\pi$ 介子质量差异引起的效应和其余的虚光子与实光子效应。在本文中，我们推导了由带电 $\pi$ 介子与中性 $\pi$ 介子之间的质量差异引起的 $\pi\pi$ 散射 Roy 方程的修正。我们在将方程与在相同近似下计算得到的 $\pi \pi$ 散射振幅的手征表示相匹配后，对方程进行了数值求解，本文也给出了该手征表示。我们给出并详细讨论了数值结果。