超导器件界面的本征光子损耗
量子物理
2020-10-05 v3 介观与纳米尺度物理
摘要
我们提出了一种由超导器件中光子与声子间压电耦合引起的介电能量损耗的量子理论。研究表明,光子损耗主要发生在界面处,即便材料为完美结晶(外延)且无二能级系统缺陷,该处压电效应也非零。我们对若干界面的本征损耗角正切值给出了明确的数值计算,并得出结论:若器件采用无缺陷界面制备,超导量子比特的可达 s。
引用
@article{arxiv.1909.04720,
title = {Intrinsic Photon Loss at the Interface of Superconducting Devices},
author = {Igor Diniz and Rogério de Sousa},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.04720},
year = {2020}
}
备注
5 pages, 1 figure. Appendix: 6 pages, 1 figure