SKIRT 中 X 射线荧光线的本征线轮廓
高能天体物理现象
2024-08-08 v1
摘要
我们在 X 射线辐射传递代码 SKIRT 中加入了最强 X 射线荧光线的本征线轮廓，以对基于 XRISM/Resolve 和 Athena/X-IFU 高分辨率线观测数据建模的冷气结构和运动学。根据多 Lorentzian 参数化方案实现了 Cr、Mn、Fe、Co、Ni 和 Cu 的 Ka、Kb 线的本征线轮廓，在辐射传递过程中从这些 Lorentzian 成分中抽样线能。于在弱辐射传递 regime 下，SKIRT 的结果与实验室测得的本征线轮廓一致。对于包含运动学的更复杂三维模型，我们发现本征线轮廓被拉宽并偏移，这种变化将被 XRISM/Resolve 检测到；该模型还表明本征线形状对于约束运动学至关重要。我们发现观测到的线轮廓直接追踪冷气的运动学，不受任何额外的辐射传递效应的影响。随着首次 XRISM/Resolve 数据的到来，SKIRT 这一 X 射线辐射传递框架的此项更新恰逢其时，为从 X 射线微热电谱图约束冷气的速度结构提供了独一无二的工具。
引用
@article{arxiv.2408.03367,
title = {Intrinsic line profiles for X-ray fluorescent lines in SKIRT},
author = {Bert Vander Meulen and Peter Camps and Masahiro Tsujimoto and Keiichi Wada},
journal= {arXiv preprint arXiv:2408.03367},
year = {2024}
}
备注
6 pages, 3 figures, accepted for publication in Astronomy & Astrophysics