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康普顿厚AGN周围X射线荧光谱线的发射区

高能天体物理现象 2016-04-20 v1 星系天体物理

摘要

X射线荧光谱线是中心活动星系核(AGN)照射下环面反射光谱的独特特征。其内禀线宽可用于探测发射谱线的区域。以往研究聚焦于6.4 keV处最显著的荧光谱线Fe Ka线。然而,这些研究受限于现有仪器的光谱分辨率,其中最佳的是Chandra高能光栅(HEG)提供的1860\sim1860 km s1^{-1}。HEG光谱分辨率在1.74 keV处(即Si Ka线所在位置)提高了4倍。我们测量了Circinus、Mrk 3和NGC 1068的Si Ka线FWHM,分别为570±240570\pm240730±320730\pm320320±280320\pm280 km s1^{-1}。它们比先前用Fe Ka线测量的宽度小353-5倍。这表明Fe Ka线的内禀宽度很可能被高估了。测得的Si Ka线宽度将这些发射谱线的区域置于这些星系的尘埃升华半径之外。这意味着对于康普顿厚AGN,X射线荧光物质可能与红外辐射的尘埃环面相同。

关键词

引用

@article{arxiv.1603.03548,
  title  = {On the emitting region of X-ray fluorescent lines around Compton-thick AGN},
  author = {Jiren Liu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1603.03548},
  year   = {2016}
}

备注

4 pages, 1 fig, to appear on MNRAS