解读宽发射线变化 I：影响发射线响应的因素

我们在具有固定宽线区（BLR）边界但大小各异的简化 BLR 几何模型背景下，研究了测得的宽发射线响应度 dlog f_line/dlog f_cont 对连续谱变化的敏感性，其中本征发射线响应度是预先已知的。我们发现，对于一般的发射线，当特征连续谱变率时标 T_char 小于特定 BLR 几何结构和观测者取向下的该线最大延迟 tau_max(line) 时，测得的响应度、延迟以及互相关函数的最大值之间存在相关性。上述相关性是空间延展的 BLR 内回响效应引起的几何稀释的表现。当存在几何稀释时，它会降低测得的响应度、延迟和互相关函数的最大值。我们还发现，测得的响应度和延迟强烈依赖于光变曲线持续时间，较短的观测活动导致数值小于预期，而仅微弱依赖于采样率。先前研究中发现的连续谱水平与线响应度之间显著的负相关性，无法用采样模式、光变曲线持续时间的差异或纯几何效应来解释。为解释这一点并满足单个源中观测到的连续谱光度与 BLR 大小之间的正相关性，响应度加权半径必须随连续谱光度的增加而增加。对于具有固定内外边界的 BLR，这需要径向表面发射率分布显著偏离简单的幂律，且其方式使得本征发射线响应度随 BLR 半径增大而增加，这与光致电离计算结果一致。