铜氧化物中扫描隧道准粒子干涉与杂质态的诠释
超导电性
2015-05-29 v2 强关联电子
摘要
我们将一种最近开发的方法应用于铜氧化物超导体的 STM 数据诠释问题，该方法结合了基于第一性原理的 Wannier 函数与 Bogoliubov-de Gennes 方程的解。我们表明，只有考虑到 Cu Wannier 函数的拖尾（其在相邻晶胞的顶端 O 位点上包含显著权重），才能理解 BiSrCaCuO 表面 Zn 的观测图像。因此，该计算为早期粗糙的“滤波”理论奠定了微观基础，并解决了一个长期存在的谜题。随后，我们研究了由面外弱势散射体引起的准粒子干涉现象，并展示了如何根据表面上方 Wannier 函数的干涉来理解铜氧化物中长期观测到的图案。我们的结果与实验吻合极好，并通过 STM 成像促进了对铜氧化物中新颖现象的更好理解。
引用
@article{arxiv.1407.1846,
title = {Interpretation of scanning tunneling quasiparticle interference and impurity states in cuprates},
author = {A. Kreisel and Peayush Choubey and T. Berlijn and B. M. Andersen and P. J. Hirschfeld},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.1846},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 5 figures, published version (Supplemental Material: 5 pages, 11 figures) for associated video file, see http://itp.uni-frankfurt.de/~kreisel/QPI_BSCCO_BdG_p_W.mp4