剥离薄层CrGeTe3薄膜的内部与边缘磁化
介观与纳米尺度物理
2022-07-20 v1
摘要
CrGeTe3（CGT）是一种半导体性范德瓦耳斯铁磁体，已被证明在薄至两层厚的样品中仍具有磁性。尽管CGT是自旋电子器件的主要候选材料之一，目前仍缺乏对其厚度依赖磁化的全面分析。在本工作中，我们采用扫描SQUID-on-tip（SOT）显微镜在4.2 K下解析剥离CGT薄片的磁学性质。结合CGT/NbSe2样品的输运测量与SOT图像，我们呈现了CGT的磁纹理与滞回磁性，从而将CGT的全局行为与该局部SOT磁成像提取的畴结构相匹配。利用该方法，我们给出了裸CGT薄膜的厚度依赖磁化态图。对于厚度大于10 nm的薄膜未发现有零场磁记忆，而在该临界厚度以下发现了硬铁磁性。利用扫描SOT显微镜，我们辨识出一种独特的边缘磁性，与CGT内部所得结果形成对比。
引用
@article{arxiv.2207.08845,
title = {Interior and edge magnetization in thin exfoliated CrGeTe3 films},
author = {Avia Noah and Hen Alpern and Sourabh Singh and Alon Gutfreund and Gilad Zisman and Tomer D. Feld and Atzmon Vakahi and Sergei Remennik and Yossi Paltiel and Martin E. Huber and Victor Barrena and Hermann Suderow and Hadar Steinberg and Oded Millo and Yonathan Anahory},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.08845},
year = {2022}
}
备注
Main text: 15 pages, 5 figures. Supplementary information: 9 pages, 10 figures. Supplementary videos: 5