条纹化HTS涂层导体在77 K下的丝间电阻
超导电性
2017-01-17 v2
摘要
将HTS涂层导体（CC）带材条纹化为窄细丝，提供了降低带材磁化损耗而无需不合理地降低其载流能力的可能性。然而，实现良好分离的条纹存在技术挑战，特别是当细丝数量大和/或存在厚金属稳定层时。在这些情况下，细丝容易耦合，其降低磁化损耗的效果被强烈削弱或消除。虽然耦合的开始从磁化损耗测量中清晰可见，但耦合电流的实际路径未知。在本文中，我们提出对HTS CC样品中横向电阻的系统研究，以更深入理解这些路径。测量的样品在制造商（SuperPower和SuperOx）以及稳定材料的存在和厚度方面有所不同。此外，氧化被用作在非稳定样品中增加细丝间电阻的手段。结果用链网络模型解释。该工作为决定条纹化HTS CC中横向电阻的因素提供了有用见解，从而指出了改进条纹化过程以减少交流损耗有效性的途径。
引用
@article{arxiv.1605.00401,
title = {Interfilament Resistance at 77 K in Striated HTS Coated Conductors},
author = {R. Gyuráki and A. Godfrin and A. Jung and A. Kario and R. Nast and E. Demenčik and W. Goldacker and F. Grilli},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.00401},
year = {2017}
}