双量子 dot 中电子转移计数统计中的干涉效应
介观与纳米尺度物理
2008-05-26 v2
摘要
我们利用基于量子主方程方法的生成函数技术，研究了量子干涉和库仑相互作用对平行几何构型下穿过双量子 dot 的电子计数统计的影响。结果表明，电子的偏度和平均驻留时间是对干涉和库仑耦合最敏感的物理量。连续电子转移过程的联合概率显示出由干涉引起的特征时间振荡。即使存在库仑耦合和干涉，预测正向与反向转移事件数量之间普遍联系的稳态涨落定理也被证明依然成立。
引用
@article{arxiv.0709.3551,
title = {Interference effects in the counting statistics of electron transfers through a double quantum dot},
author = {Sven Welack and Massimiliano Esposito and Upendra Harbola and Shaul Mukamel},
journal= {arXiv preprint arXiv:0709.3551},
year = {2008}
}
评论
11 pages, 12 figures