焦耳热对电流诱导畴壁脱钉的影响
介观与纳米尺度物理
2016-07-15 v2 材料科学
摘要
在静态磁场施加和短电流脉冲注入下，我们从理论上研究了位于 基底上的坡莫合金纳米条中从缺口处发生的畴壁脱钉。通过将铁磁条中的磁化动力学与整个系统的热传输耦合，自洽地探索了焦耳热对电流诱导畴壁脱钉的影响。我们的结果表明焦耳热在这些过程中起着显著作用，导致对于典型注入的电流脉冲，临界脱钉场减小和/或铁磁序的暂时破坏。与实验观测一致，当考虑焦耳热时，对于两种电流极性均可推导出相似的钉扎-脱钉相图。这些与仅由自旋转移矩贡献不相容的观测，提供了对这些过程背后物理的更深入理解，并确立了自旋转移矩的实际作用范围。它们也与基于软磁条上电流诱导畴壁运动的技术应用相关。
引用
@article{arxiv.1604.00522,
title = {Influence of Joule heating on current-induced domain wall depinning},
author = {Simone Moretti and Victor Raposo and Eduardo Martinez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.00522},
year = {2016}
}