基于全息偏振法用于引力波探测器中原位基片双折射特性表征
仪器与探测器
2026-05-14 v1 天体物理仪器与方法
广义相对论与量子宇宙学
摘要
高品质的测试质量基片在激光干涉引力波探测器中发挥着关键作用。然而，测试质量基片中的各向同性双折射分布会通过引入光学损耗并扰乱干涉仪控制，降低探测器灵敏度。本文提出了一种全息偏振方法，实现对原位双折射特性的表征，从而诊断引力波干涉仪。我们通过一个台面实验演示了所提方法。我们也讨论了其对当前及未来引力波探测器的适用性以及可检测的极限。
引用
@article{arxiv.2512.17395,
title = {In situ substrate birefringence characterization in gravitational wave detectors using a heterodyne polarimetry method},
author = {Satoshi Tanioka and Terri Pearce and Yuta Michimura and Kazuhiro Agatsuma and Martin Van Beuzekom and Alberto Vecchio and Stephen Webster and Matteo Leonardi and Keiko Kokeyama},
journal= {arXiv preprint arXiv:2512.17395},
year = {2026}
}
备注
14 pages, 7 figures