太阳能电池 CIGS 薄膜的深度分析：结构与光学表征
光学
2011-01-04 v2 材料科学
摘要
在梯度刻蚀的CuInGaSe2 (CIGS) 太阳能电池上进行的空间分辨X射线衍射测量，提供了关于吸收层中应力和织构深度分布的信息。本文分析了钼背接触中依赖于吸收层厚度的应力，这是CIGS层生长动力学的一个重要参数。晶粒的织构与多晶吸收层的质量与人为设定的成分梯度（带隙渐变）相关联。带隙梯度由空间分辨光致发光测量确定，并与成分和应变分布相关联。
引用
@article{arxiv.1010.2909,
title = {In-depth analysis of CIGS film for solar cells, structural and optical characterization},
author = {A. Slobodskyy and T. Slobodskyy and T. Ulyanenkova and S. Doyle and M. Powalla and T. Baumbach and U. Lemmer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1010.2909},
year = {2011}
}