提高低本底α发射测量的探测限

α粒子发射，即使在极低水平下，也是稀有事件搜寻（例如，双贝塔衰变、暗物质探测）中的一个重要问题。传统的测量技术需要较长的计数时间来测量在远大于仪器本底的情况下存在的低样品率。为解决此问题，XIA公司开发的一种商用仪器使用脉冲形状分析来区分样品产生的α发射与仪器本身其他表面产生的α发射。使用该系统的经验揭示了两种残余本底来源：宇宙成因和内部组件的氡析出。一项开发计划正在进行中，以增强该系统并进一步扩展脉冲形状分析技术，从而也能识别并排除这些残余来源。在本文中，我们回顾了XIA的α计数器所使用的工作原理和脉冲形状分析技术，并简要探讨了暗示残余本底项来源的数据。然后，我们将介绍我们增强系统识别和排除这些本底项能力的方法。最后，我们将描述一个包含我们概念并证明其可行性的原型系统。