稀有$Z$介子衰变为重型矢量夸克抗体加夸克对的改进分析

我们改进了对稀有$Z$介子衰变$Z\to V\ell^+\ell^-$（$\ell=e$或$\mu$）的理论预测，其中$V$指的是包括$J/\Psi$、$\Psi(2S)$和$\Upsilon(nS)$（$n=1,2,3$）的重型矢量夸克抗体。这些过程被认为主要由电磁碎裂过渡决定，即$Z\to \gamma^*\ell^+\ell^-$随后$\gamma^*\to V$。本次研究包含了这些衰变在标准模型中贡献的所有相关树级费曼图。我们的分析表明，对于charm抗体最终状态，碎裂过渡几乎完全占据全部贡献，其他图可以忽略不计；而对于bottom抗体最终状态，其他图的加入可使分支截至率提高$4$。进一步的微分分布研究，特别是角度分布分析，表明这些过程中的最终夸克抗体前后夹角对在标准模型下应为零。因此，在未来拥有大量$Z$介子事件的实验设施中，这些稀有$Z$衰变的研究可能有助于检验标准模型并探索其有趣的扩展。