仪器系统污染对利用宇宙微波背景极化进行弱引力透镜质量重建的影响
宇宙学与河外天体物理
2009-06-30 v1
摘要
本文研究了仪器系统效应对利用宇宙微波背景温度和极化观测的弱引力透镜效应重建偏转角功率谱的影响。我们考虑了七种与已知仪器系统效应相关的效应：校准、旋转、指向、自旋翻转、单极子泄漏、偶极子泄漏和四极子泄漏。这些效应可以用 11 个畸变场来表征。这些系统效应中的每一种都可以模拟有效的投影物质功率谱，从而污染透镜重建。为了演示这些仪器系统效应的影响，我们考虑了两种类型的实验：一种探测器极化噪声水平为 9.6 uK-arcmin、半高全宽为 8.0'，代表即将到来的地面和气球基宇宙微波背景实验；以及一个类似 CMBPol 的仪器，其探测器极化噪声水平为 2.0 uK-arcmin、半高全宽为 4.0'，代表未来的天基宇宙微波背景实验。对于每种系统效应，我们考虑了不同的相干尺度选择。在所有 11 个系统参数中，旋转和单极子泄漏提出了最严格的要求，而四极子泄漏、指向误差和校准的要求最低。来自透镜提取的要求比测量暴胀能标为 1.0*10^{16} GeV 的原初 B 模的要求宽松约 1-2 个数量级。另一方面，对于某些系统参数，透镜重建的要求与探测暴胀能标 E_i = 3.0*10^{16} GeV 的原初 B 模的要求相当，甚至更为严格。
引用
@article{arxiv.0901.0285,
title = {Impact of Instrumental Systematic Contamination on the Lensing Mass Reconstruction using the CMB Polarization},
author = {Meng Su and Amit P. S. Yadav and Matias Zaldarriaga},
journal= {arXiv preprint arXiv:0901.0285},
year = {2009}
}
备注
22 pages, 7 figures