杂质对俘获电子模湍流驱动的带状流的影响
等离子体物理
2017-10-25 v1
摘要
本文研究了氘（D）-氚（T）等离子体中杂质对无碰撞俘获电子模（CTEM）湍流驱动的带状流（ZF）产生的影响。通过平衡极化效应屏蔽的 ZF 电势与 ZF 调制的径向湍流电流，推导了含杂质的 ZF 增长率表达式。结果表明，具有相对平坦密度分布的全电离非痕量轻杂质会降低最大归一化 ZF 增长率，而高电离痕量钨（W）则使其略微降低。然而，具有相对陡峭密度分布的全电离非痕量轻杂质也能使最大归一化 ZF 增长率提高。特别地，D-T 反应产生的高温氦对 ZF 的影响取决于电子与高温氦之间的温度比。本文还讨论了上述结果与近期实验结果及未来燃烧等离子体的潜在关联。
引用
@article{arxiv.1708.04388,
title = {Impact of impurities on zonal flow driven by trapped electron mode turbulence},
author = {Weixin Guo and Lu Wang and Ge Zhuang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.04388},
year = {2017}
}
备注
Accepted for publication in Nuculear Fusion