双重 TMD 效应对 RHIC 上横向性测量的影响
高能物理 - 唯象学
2011-07-01 v1
摘要
本文对 Drell-Yan 过程和 W 玻色子产生中，由横动量依赖（TMD）效应引起的、在测量到的 处的双横向自旋不对称度进行了定量估计。这些自旋不对称度被计算为在实验室坐标系中测量的轻子方位角的函数。在该坐标系中，与 Collins-Soper 坐标系不同，TMD 效应对自旋不对称度 的贡献方式与横向性相同，这使得它们成为 Drell-Yan 过程中横向性测量和 W 玻色子产生中新物理研究的背景。利用当前对相关 TMD 的了解，我们得出结论：这一背景可以忽略不计，因此当在实验室坐标系中进行测量时，既不会妨碍横向性测量，也不会妨碍新物理研究。我们还指出了一项交叉检验不对称度测量，用以约束 TMD 贡献，该测量不依赖于对相关 TMD 大小的假设。
引用
@article{arxiv.1106.6164,
title = {Impact of double TMD effects on transversity measurements at RHIC},
author = {Wilco J. den Dunnen and Daniel Boer and Aram Kotzinian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1106.6164},
year = {2011}
}
备注
4 pages, 4 figures, to appear in the proceedings of the XIX International Workshop on Deep-Inelastic Scattering and Related Subjects (DIS 2011), April 11-15, 2011, Newport News, VA USA