石墨烯中单个原子缺陷共振耗散的成像
介观与纳米尺度物理
2017-12-11 v1
摘要
电流转化为热量涉及在纳米尺度上运行并释放微量功率的微观过程。尽管这对于我们理解材料的电学性质至关重要，但迄今为止，能量耗散的个体介体仍无法被直接观测。利用具有亚微开尔文灵敏度的扫描纳米测温技术，我们可视化并控制了石墨烯中单个原子缺陷的声子发射。当费米能级与此类缺陷处的电子准束缚态发生共振时，推断出的电子-声子“冷却功率谱”呈现出尖锐的峰值，这是一个此前未被描绘的过程。在体相中罕见但在石墨烯边缘丰富的可切换原子级声子发射体，决定了主导的耗散机制。我们的工作为应对现代电子学中的关键材料挑战以及在纳米尺度上工程化耗散提供了新见解。
引用
@article{arxiv.1710.01486,
title = {Imaging resonant dissipation from individual atomic defects in graphene},
author = {Dorri Halbertal and Moshe Ben Shalom and Aviram Uri and Kousik Bagani and Alexander Y. Meltzer and Ido Marcus and Yuri Myasoedov and John Birkbeck and Leonid S. Levitov and Andre K. Geim and Eli Zeldov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.01486},
year = {2017}
}