利用 MeV 超快电子显微镜成像相对论电子束的纳米尺度空间调制
加速器物理
2018-03-16 v2
摘要
基于加速器的 MeV 超快电子显微镜（MUEM）已被提出作为一种有前景的工具，用于在纳米空间尺度和皮秒时间尺度上研究结构动力学。在此我们报道了一台原型 MUEM 的实验测试，其中利用脉冲 3 MeV 皮秒电子束记录了具有纳米尺度精细结构的高质量图像。以单发模式运行的 MUEM 的时间与空间分辨率分别约为 4 ps（FWHM）与 100 nm（FWHM），对应时空分辨率为 4e-19 s*m，比最先进的单发 keV UEM 所实现的约高两个数量级。利用该仪器，我们展示了对电子束纳米尺度周期性空间调制的可视化，该调制可通过发射度交换转换为纵向密度调制，从而在高功率短波长相干辐射的产生中实现应用。我们的结果标志着向单发纳米分辨率 MUEM 与紧凑型强 X 射线源迈出了一大步，后者可能在众多科学领域具有广泛应用。
引用
@article{arxiv.1803.04670,
title = {Imaging nanoscale spatial modulation of a relativistic electron beam with a MeV ultrafast electron microscope},
author = {Chao Lu and Tao Jiang and Shengguang Liu and Rui Wang and Lingrong Zhao and Pengfei Zhu and Yaqi Liu and Jun Xu and Dapeng Yu and Weishi Wan and Yimei Zhu and Dao Xiang and Jie Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.04670},
year = {2018}
}
备注
5 pages,5,figures,published in APL