利用磁光 Voigt 效应成像氧化镍薄膜中的反铁磁畴
材料科学
2026-02-10 v2
摘要
近期对反铁磁体（AFM）的电学探测与操控的演示，为稳健且超快的自旋电子器件开辟了新机遇。然而，由于缺乏电场下的实时 AFM 畴成像技术，难以建立自旋输运行为与微观 AFM 畴态之间的联系。本文报道了室温下薄层 NiO(001) 薄膜中高达 60 mdeg 的显著 Voigt 旋转。如此大的 Voigt 旋转使我们能够利用宽场光学显微镜直接观察薄膜 NiO 中的 AFM 畴。进一步的互补 XMLD-PEEM 测量确认该 Voigt 衬度源于 NiO 的 AFM 序。我们考察了在宽温区及外加磁场下的畴图案演化。与 X 射线光电子发射显微镜等大型设施技术相比，采用宽场台式光学成像方法可直截了当地获取单层 AFM 的畴构型。
引用
@article{arxiv.1906.06844,
title = {Imaging Antiferromagnetic Domains in Nickel-oxide Thin Films by Magneto-optical Voigt Effect},
author = {Jia Xu and Chao Zhou and Mengwen Jia and Dong Shi and Changqing Liu and Haoran Chen and Gong Chen and Guanhua Zhang and Yu Liang and Junqin Li and Wei Zhang and Yizheng Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.06844},
year = {2026}
}
备注
17 pages , 5 figures