静水压对轻微掺杂 YBa2Cu3O7-{\delta} 单晶赝能隙的影响

本文研究了最高至 P=1.05 GPa 的静水压对轻微掺杂 YBa2Cu3O7-${\delta}$ 单晶（$Tc=49.2 K$, ${\delta}~ 0.5$）的电阻率 R、过剩电导率 ${\sigma}'(T)$ 和赝能隙 ${\Delta}*(T)$ 的影响。研究发现，临界温度 Tc 随压力增加而升高的速率为 dTc/dP = 5.1 K/GPa，而 R(300)K 减小的速率为 d(ln R)/dP = 0.19% 1/GPa。在 Tc 附近，${\sigma}'(T)$ 不受压力影响，可由 Aslamasov-Larkin 和 Hikami-Larkin 涨落理论很好地描述，表明随温度升高发生了 3D-2D 跨越。跨越温度 To 确定了在 P=0 时沿 c 轴的相干长度 ${\xi}c(0) \sim 3.43 A$，且发现该长度随 P 增加而减小。同时，${\Delta}*$ 和 BCS 比值 $2{\Delta}*/kTc$ 均随静水压增加而增大，速率为 $d(ln {\Delta}*)/dP= 0.36 1/GPa$，这意味着耦合强度随 P 增加而增强。在低于 Tp 的低温下，${\Delta}*(T)$ 曲线的形状几乎与压力无关。在高温下，${\Delta}*(T)$ 曲线的形状随 P 增加发生显著变化，表明压力对晶格动力学有强烈影响。这种异常行为是首次被观察到。