使用 EBIT-I 对 M 级 Fe EUV 线发射进行高分辨率实验测量
太阳与恒星天体物理
2024-08-27 v1
摘要
太阳物理学家常用于研究各种太阳结构的观测 Ar-like Fe IX 和 Cl-like Fe X 发射。然而，Fe IX 和 Fe X 光谱中存在未识别的线，严重阻碍了这些离子的光谱诊断潜力。本文采用劳伦斯利佛蒙特国家实验室 EBIT-I 电子束离子阱进行测量，波长范围为 238-258 Å。这些研究使我们能够明确识别每个观察到的线所对应的电荷态。这一波长范围尤其有趣，因为它包含 Fe IX 密度诊断线比 241.74 Å/244.91 Å，被预测是太阳星 corona 中最佳密度诊断之一，以及 Fe X 257.26 Å 的磁场诱导跃迁。我们将测量结果与用于模型化太阳光谱的 CHIANTI v10.0.1 中的 Fe IX 和 Fe X 线进行比较。此外，我们测量了之前未被识别的 Fe X 线，这些线需要被添加到 CHIANTI 和其他光谱数据库中。
引用
@article{arxiv.2408.14454,
title = {High-Resolution Laboratory Measurements of M-shell Fe EUV Line Emission using EBIT-I},
author = {Alexander J. Fairchild and Natalie Hell and Peter Beiersdorfer and Gregory V. Brown and Megan E. Eckart and Michael Hahn and Daniel W. Savin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2408.14454},
year = {2024}
}