垂直腔半导体激光器的高分辨率双折射制图
光学
2015-11-13 v3
摘要
我们将一种双通道成像技术（该技术可同时获取高质量、高分辨率的强度与峰值发射波长剖面[T. Wang and G.L. Lippi, Rev. Sci. Instr. 86, 063111 (2015)]）与多模VCSEL光发射的偏振分辨分析相耦合。关于两个偏振分量之间的局部波长偏移以及波长梯度的详细信息可以轻易收集。可以为每个波长分量构建偏振和位置分辨的能量平衡，从而以简单方式对收集的光进行直接分析。还提出了该方法应用于VCSEL以外的其他样品。
引用
@article{arxiv.1509.03064,
title = {High-resolution birefringence cartography of a vertical cavity semiconductor laser},
author = {T. Wang and G. L. Lippi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1509.03064},
year = {2015}
}