Einasto轮廓的投影质量(计数)与面密度(亮度)的高精度解析解
星系天体物理
2021-07-07 v2 宇宙学与河外天体物理
泛函分析
摘要
Einasto轮廓已成功描述CDM N体模拟中暗物质晕的密度轮廓,也能描述星系面亮度轮廓中的多成分。然而,将其解析投影以计算投影下的量颇具挑战。本文中,我们将看到利用一种新方法,为Einasto轮廓在无限长圆柱柱体内所包围的质量(或计数)——亦称投影质量(或计数)——开发出高精度解析近似。随后我们将基于投影质量表达式开发出自洽的高精度面密度模型。两个模型对广泛的函数族均相当精确,形状参数在范围内变化达100倍,对于分数误差。已表明的轮廓可拟合N体模拟中暗物质晕的密度轮廓以及大质量星系外成分的亮度轮廓。由于投影质量与面密度用于引力透镜,我将说明这些模型如何(首次)促进因Einasto轮廓引起的透镜中若干关注量的解析计算。不过,这些模型不限于透镜,也适用于投影下的类似量,如投影光度、投影(柱状)数计数以及投影密度或面亮度。
引用
@article{arxiv.2106.13789,
title = {High-accuracy analytical solutions for the projected mass (counts) and surface density (brightness) of Einasto profiles},
author = {Barun K. Dhar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.13789},
year = {2021}
}
备注
6 pages, 9 figures, 2 tables. This is a pre-copyedited, author-produced PDF of an article accepted for publication in MNRAS following peer review. NOTE: The DOI was incorrect in an earlier version published on arxiv on June 28, 2021. The most recent version has the correct DOI