用于偏振光束轮廓测量的介电超透镜子阵列广义Hartmann-Shack排布
光学
2018-11-21 v1
摘要
为定义和表征光学系统，获取光光束的振幅、相位和偏振轮廓信息至关重要。使用体光学的偏振测量已成熟用于表征偏振态。近来，超表面和超透镜已成功引入作为紧凑光学元件。在此，我们将超表面概念推广至系统层面，实现了金属透镜2*3子阵列的排布，从而可确定光光束的偏振轮廓。我们使用基于硅的金属透镜，数值孔径为0.32，在1550 nm波长透射模式下测得平均衍射效率为28%。配合记录阵列焦点的标准相机，我们的系统极为紧凑，并可通过检查焦点振幅实现实时光束诊断。进一步按Hartmann-Shack波前传感器思路分析焦点位移，我们可同时探测相位梯度轮廓。作为应用示例，我们诊断了径向偏振光束、角向偏振光束和涡旋光束的偏振轮廓。
引用
@article{arxiv.1807.06907,
title = {Generalized Hartmann-Shack array of dielectric metalens sub-arrays for polarimetric beam profiling},
author = {Zhenyu Yang and Zhaokun Wang and Yuxi Wang and Xing Feng and Ming Zhao and Zhujun Wan and Liangqiu Zhu and Jun Liu and Yi Huang and Jinsong Xia and Martin Wegener},
journal= {arXiv preprint arXiv:1807.06907},
year = {2018}
}
备注
20 pages, 6 figures,