芯片集成超表面全斯托克斯偏振成像传感器
光学
2023-03-21 v1 应用物理
摘要
偏振成像在揭示人眼与传统成像传感器不可见的特征方面应用广泛。紧凑、快速、低成本且准确的全斯托克斯偏振成像传感器在许多应用中极受青睐，然而受基本材料限制至今难以实现。本文提出一种基于超表面的全斯托克斯偏振成像传感器（MetaPolarIm），通过将超薄（~600 nm）超表面偏振滤光片阵列（MPFA）集成到可见光成像传感器上、采用 CMOS 兼容工艺实现。该 MPFA 具备宽带介质-金属杂化手性超表面与双层纳米光栅偏振器。该芯片集成偏振成像传感器可实现单次拍摄全斯托克斯成像（速度受 CMOS 成像器限制），具有最紧凑外形、创纪录高测量精度、双色工作（绿与红）及高达 40 度的全视角。MetaPolarIm 有望在自主视觉、工业检测、空间探索、医学成像与诊断中实现变革性应用。
引用
@article{arxiv.2303.10858,
title = {Chip-Integrated Metasurface Full-Stokes Polarimetric Imaging Sensor},
author = {Jiawei Zuo and Jing Bai and Shinhyuk Choi and Ali Basiri and Xiahui Chen and Chao Wang and Yu Yao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2303.10858},
year = {2023}
}
备注
27 pages, 5 figures