基于架构相关性分析的门级侧信道泄露评估
密码学与安全
2022-04-27 v1
摘要
虽然侧信道泄露传统上从 fabricated 芯片进行评估,但在芯片设计阶段进行此类评估更具时间效率和成本效益。我们提出了一种方法,根据设计中各门对芯片侧信道泄露的贡献对其进行排序。该方法依赖逻辑综合、逻辑仿真、门级功耗估计和门泄露评估来计算排序。该排序度量可定义为通过将门级活动与泄露模型相关联的特定测试,或定义为通过评估门级活动对 distinct 测试向量组的响应的非特定测试。我们的结果表明,设计中仅有少数门贡献了大部分侧信道泄露。我们对若干设计展示了该性质,包括硬件 AES 协处理器和五阶段流水线 RISC 处理器中的密码学硬件/软件接口。
引用
@article{arxiv.2204.11972,
title = {Gate-Level Side-Channel Leakage Assessment with Architecture Correlation Analysis},
author = {Pantea Kiaei and Yuan Yao and Zhenyuan Liu and Nicole Fern and Cees-Bart Breunesse and Jasper Van Woudenberg and Kate Gillis and Alex Dich and Peter Grossmann and Patrick Schaumont},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.11972},
year = {2022}
}