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用于扫描量子点显微镜的在线高斯过程学习与控制融合

系统与控制 2020-04-07 v1 系统与控制 仪器与探测器

摘要

阐明静电表面势有助于更深入理解物质本质及其物理化学性质,这是广泛应用领域的基础。扫描量子点显微镜作为近期发展的技术,可原子分辨率地测量此类电势。然而,为在科学实践中高效部署,加速扫描过程至关重要。为此我们采用两自由度控制范式,其中高斯过程用作前馈部分。我们提出了一种适配扫描量子点显微镜的定制在线学习方案,包含运行期间的超参数优化,以实现对任意表面结构的快速精确扫描。为潜在的实际应用,通过评估不同稀疏近似方法降低了伴随的计算成本。在精简的活跃训练数据集上使用的完全独立训练条件近似被发现是最有前景的方法。

关键词

引用

@article{arxiv.2004.02488,
  title  = {Fusing Online Gaussian Process-Based Learning and Control for Scanning Quantum Dot Microscopy},
  author = {Maik Pfefferkorn and Michael Maiworm and Christian Wagner and F. Stefan Tautz and Rolf Findeisen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2004.02488},
  year   = {2020}
}

备注

This paper is currently under review for CDC 2020