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扫描探针显微镜的贝叶斯主动学习:从高斯过程到假设学习

材料科学 2022-08-22 v2 机器学习

摘要

机器学习方法的最新进展,以及扫描探针显微镜(SPM)可编程接口的新兴可用性,已将自动化与自主显微镜推到科学界关注的前沿。然而,实现自动化显微镜需要开发特定任务的机器学习方法,理解物理发现与机器学习之间的相互作用,以及完全明确的发现工作流。这反过来又需要平衡领域科学家的物理直觉与先验知识、定义实验目标的奖励,以及能够将这些转化为具体实验方案的机器学习算法。在此,我们讨论贝叶斯主动学习的基本原理,并阐述其在SPM中的应用。我们从作为简单数据驱动方法的高斯过程,以及作为基于物理的函数拟合扩展的物理模型贝叶斯推断,推进到更复杂的深度核学习方法、结构化高斯过程和假设学习。这些框架允许使用先验数据、发现谱数据中编码的特定功能,以及探索实验过程中显现的物理规律。所讨论的框架可普遍应用于所有结合成像与光谱的技术、SPM方法、纳米压痕、电子显微镜与光谱以及化学成像方法,并且对于破坏性或不可逆测量尤其具有影响力。

关键词

引用

@article{arxiv.2205.15458,
  title  = {Bayesian Active Learning for Scanning Probe Microscopy: from Gaussian Processes to Hypothesis Learning},
  author = {Maxim Ziatdinov and Yongtao Liu and Kyle Kelley and Rama Vasudevan and Sergei V. Kalinin},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2205.15458},
  year   = {2022}
}

备注

39 pages, 10 figures