巡游铁磁体SrRuO$_3$薄膜的基本厚度极限
强关联电子
2011-03-15 v2
摘要
我们报道了巡游铁磁氧化物SrRuO可能源于轨道选择性量子限制效应的基本厚度极限。实验上，SrRuO薄膜即使在2个单胞的厚度下仍保持金属性，但居里温度T在4个单胞时开始下降，并在2个单胞时降为零。利用Stoner模型，我们将T的下降归因于态密度(N)的减小。即，在薄膜几何结构中，杂化的Ru-d轨道被顶部和底部界面终止，导致量子限制和N的减小。
引用
@article{arxiv.0903.0225,
title = {Fundamental thickness limit of itinerant ferromagnetic SrRuO$_3$ thin films},
author = {Young Jun Chang and Choong H. Kim and S. -H. Phark and Y. S. Kim and J. Yu and T. W. Noh},
journal= {arXiv preprint arXiv:0903.0225},
year = {2011}
}
备注
20 pages, 4 figures