范德华材料红外响应的傅里叶分析
材料科学
2014-07-28 v1 光学
摘要
本文报道了一种用于半透明样品光学研究的分析技术。通过对具有法布里 - 珀罗（Fabry-Perot）共振的光谱进行傅里叶变换，我们提取了关于样品厚度及其离散变化的信息。此外，利用这些信息可以恢复去除法布里 - 珀罗条纹的光谱，从而简化光学建模并揭示此前被掩盖的光谱特征。为说明其用途，我们将该技术应用于硅片以及六种不同的可剥离层状材料，包括拓扑绝缘体、热电材料和磁性绝缘体。在这些层状材料中，我们发现了大台阶边缘和厚度不均匀性的有力证据，且无法确凿排除剥离样品体内存在空洞的可能性。这可能严重影响对具有拓扑保护表面态晶体的输运和光学数据的解释。
引用
@article{arxiv.1407.6713,
title = {Fourier analysis of the IR response of van der Waals materials},
author = {Anjan A. Reijnders and L. J. Sandilands and G. Pohl and K. W. Plumb and Young-June Kim and S. Jia and M. E. Charles and R. J. Cava and K. S. Burch},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.6713},
year = {2014}
}
备注
6 pages, 3 figures