针对极高计数率下探测器脉冲堆积效应的荧光衰减数据分析校正方法
数据分析、统计与概率
2018-05-23 v3 仪器与探测器
光学
摘要
使用时间相关单光子计数(TCSPC)进行荧光寿命测量通常因堆积效应而受限。现代仪器可显著解除这一限制，但由频繁合并紧密间隔的探测器脉冲(探测器脉冲堆积)引起的某些伪影仍是待解决的问题。本文提出一种数据分析方法，用于校正此类伪影及其导致的系统误差。该方法从物理上建模由探测器脉冲堆积引起的光子损失，并将该损失纳入用于获取荧光寿命及衰减组分相对振幅的衰减拟合模型中。有无该校正的結果对比表明，在计数率接近激发率时系统误差显著减小。这使得在极高帧率下实现定量准确的荧光寿命成像(FLIM)成为可能。
引用
@article{arxiv.1711.01137,
title = {Fluorescence decay data analysis correcting for detector pulse pile-up at very high count rates},
author = {Matthias Patting and Paja Reisch and Marcus Sackrow and Rhys Dowler and Marcelle Koenig and Michael Wahl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.01137},
year = {2018}
}
备注
12 pages, 3 figures. v2: spelled out unexplained abbreviation FRET as requested by reviewer. v3: updated acknowledgements, accepted for publication in Opt. Eng