时间分辨荧光显微镜中寿命估计的 Cramér-Rao 分析
仪器与探测器
2019-07-18 v2 光学
摘要
通过时间相关单光子计数（TCSPC）测量荧光发射体的寿命是许多研究领域（从纳米光子学到生物学）中的常规操作。此类测量的精度取决于探测到的光子数量，也取决于测量过程中产生的各类噪声源。利用 Fisher 信息理论，我们计算了单指数和双指数分布下寿命估计精度的下界。我们分析了寿命估计精度对实验相关参数的依赖关系，包括非均匀背景噪声的贡献以及装置的仪器响应函数（IRF）。我们还提供了一个开源代码，用于确定任意实验条件下估计精度的下界。两个实际示例说明了该工具如何用于在时间分辨荧光显微镜中实现最优精度。
引用
@article{arxiv.1809.04149,
title = {Cram\'er-Rao analysis of lifetime estimations in time-resolved fluorescence microscopy},
author = {Dorian Bouchet and Valentina Krachmalnicoff and Ignacio Izeddin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.04149},
year = {2019}
}
备注
9 pages, 5 figures