Tevatron上的味标记与CP破坏测量

S. Tkaczyk; The CDF Collaboration

Tevatron上的味标记与CP破坏测量

高能物理 - 实验 2009-09-25 v1

作者: S. Tkaczyk , The CDF Collaboration

摘要

CDF合作组采用了多种重味标记技术，并将其应用于利用Tevatron Run I数据的时间相关味不对称性分析中。标记算法使用低 $P_t$ 包容轻子和双轻子触发数据样本进行了校准。标记技术被应用于约400个 $B^0_d/\bar{B}^0_d \to J/\psi K^0_s$ 衰变的样本，并用于测量CP破坏参数 $\sin(2\beta)$ 。我们简要讨论了在Tevatron上未来改进测量CP破坏参数的前景。

关键词

味标记 CP破坏 CDF Tevatron B介子 sin(2β)

引用

@article{arxiv.hep-ex/9904021,
  title  = {Flavor Tagging and CP-Violation Measurements at the Tevatron},
  author = {S. Tkaczyk and The CDF Collaboration},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/9904021},
  year   = {2009}
}

备注

Talk presented at the 17th International Workshop on Weak Interactions and Neutrinos (WIN 99), Cape Town, South Africa, January 24-30, 1999

Tevatron上的味标记与CP破坏测量

摘要

关键词

引用

备注

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