具有短衰减时间随机电导型突触输入的漏积分放电神经元的放电率
神经元与认知
2020-02-27 v1
摘要
我们计算了在突触衰减时间远短于膜时间常数的极限下，具有基于随机电导的输入的漏积分放电（LIF）神经元的放电率。针对一系列具有生物物理现实性的参数，将我们的解析结果与数值模拟进行了比较。
引用
@article{arxiv.2002.11181,
title = {Firing rate of the leaky integrate-and-fire neuron with stochastic conductance-based synaptic inputs with short decay times},
author = {Timothy D. Oleskiw and Wyeth Bair and Eric Shea-Brown and Nicolas Brunel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.11181},
year = {2020}
}
备注
5 pages, 2 figures