硅晶格参数测量中表面应力效应的有限元分析
材料科学
2013-02-20 v1 计算物理
摘要
类似于液体，即使 underlying 体材料无应力，固体表面也存在应力。本文研究了表面应力对用于通过计数硅原子来确定阿伏伽德罗常数的硅晶格参数测量值的影响。我们采用弹性薄膜模型，在对用于测量晶格参数的 X 射线干涉仪晶体的晶格应变进行有限元分析时提供表面载荷。最后，提出了一项实验方案以进行晶格参数测量，从而使表面应力产生可见效应。
引用
@article{arxiv.1302.4578,
title = {Finite element analysis of surface-stress effects in the Si lattice-parameter measurement},
author = {Carlo Sasso and Danilo Quagliotti and Enrico Massa and Giovanni Mana and Ulrich Kuetgens},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.4578},
year = {2013}
}