可逆电路的容错综合

Anugrah Jain

可逆电路的容错综合

新兴技术 2015-01-19 v2 量子物理

作者: Anugrah Jain

摘要

可逆计算已在速度、功耗和计算能力方面成为传统计算的一种可能的低成本替代方案。为了在可逆计算中实现可靠的电路，必须提供容错机制。文献中已提出了多种故障模型、容错技术（如保奇偶性）和测试方法。本论文利用两种可逆门的保奇偶性特性，提供了低成本的基于保奇偶性的容错方案。为了扩展可逆电路的在线可测试性，提出了 Peres 门的替换方案。还确定了包含 Swap 门和 Fredkin 门的 MCF 的在线测试能力。最后，开发了一种工具来实现上述所有替换，并将任何可逆电路转换为基于保奇偶性的容错电路。

关键词

可逆电路容错保奇偶性可逆计算在线可测试性 Peres 门 Fredkin 门电路综合

引用

@article{arxiv.1310.5231,
  title  = {Fault Tolerant Synthesis of Reversible Circuits},
  author = {Anugrah Jain},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1310.5231},
  year   = {2015}
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备注

This paper has been withdrawn by the author. Because of having some serious errors this paper may mislead the readers

可逆电路的容错综合

摘要

关键词

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