基于图状态测量生成的[[n,1,3]]非CSS码族中的容错绪 Syndrome 提取

量子计算的可靠性严重依赖量子纠错码（QECC）的性能。纠错码的性能可能因钩状错误而严重受损，这类错误实际上会降低码距。在本文中，我们构建了一族[[n,1,3]]非CSS QECC，这些码对基于纠错测量的容错性具有保障。我们采用Muyuan Li等人提出的裸量子比特方法，演示了在绪Syndrome 提取期间对钩状错误的容错性。我们提出了一种系统化的协议，用于利用图码生成这些QECC，并提出了一族[[n,1,3]]码，保留裸量子比特码的容错特性。我们使用自定义的查找表解码器，对该码在各向异性噪声和电路水平耗尽噪声下的性能进行仿真。我们的结果揭示了随着码率变化而性能的权衡，并在这些噪声模型下识别了优化后的码。我们将结果与Chao等人提出的旗帶量子比特方法进行了基准测试。值得注意的是，我们报告了一种新的裸量子比特码，在保持相同码距的前提下实现了更高的码率，优于Muyuan Li等人的工作中使用的裸码。