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脉冲实验中瞬时序参量域壁的命运

强关联电子 2025-03-04 v2 介观与纳米尺度物理 统计力学

摘要

在脉冲实验中,光泵脉冲常常由于光在三维 (3D) 材料上的有限穿透深度或光在二维 (2D) 材料上的有限光斑大小,导致产生序参量域壁。我们表明,由于不稳定的序参量涨落,域壁会衰减。我们研究了一个具有 U(1)U(1) 对称序的通用系统,以及具有额外弱 Z2Z_2 (U(1)U(1) 对称性破缺) 项的系统,后者代表了最近实验中的电荷密度波 (CDW) 订单。在衰减动力学的第一个阶段,指数增长的热涨落将域壁转换为具有随机分布拓扑缺陷的界面。在第二个阶段,拓扑缺陷在界面内进行 coarsening 动力学。对于 3D 系统中的 2D 界面,coarsening 动力学导致关联长度的扩散式增长。对于 2D 系统中具有弱 Z2Z_2 项的 1D 界面,关联长度增长显示从扩散式转为亚扩散行为的交叉。

关键词

引用

@article{arxiv.2407.14250,
  title  = {Fate of transient order parameter domain walls in ultrafast experiments},
  author = {Lingxian Kong and Ryuichi Shindou and Zhiyuan Sun},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2407.14250},
  year   = {2025}
}

备注

5.3 pages, 3 figures with supplemental materials