基于主成分分析与非负矩阵分解晶粒分类的4D-STEM亚纳米分辨率快速晶粒映射
应用物理
2021-09-01 v1 材料科学
摘要
利用扫描纳米束电子衍射（亦称4D扫描透射电子显微术，或4D-STEM）结合高速直接电子探测，展示了具有亚纳米空间分辨率的高通量晶粒映射。实现了直径小至0.5 nm的电子探针，所研究的样品为金-钯纳米颗粒催化剂。对4D-STEM数据集的计算分析采用圆盘配准算法识别衍射峰，随后通过特征学习映射各个晶粒。比较了两种无监督特征学习技术：主成分分析（PCA）与非负矩阵分解（NNMF）。对比了PCA与NNMF输出的特征，并讨论了4D-STEM方法在高空间分辨率下对晶粒取向进行统计分析的潜力。
引用
@article{arxiv.2103.07076,
title = {Fast Grain Mapping with Sub-Nanometer Resolution Using 4D-STEM with Grain Classification by Principal Component Analysis and Non-Negative Matrix Factorization},
author = {Frances I Allen and Thomas C Pekin and Arun Persaud and Steven J Rozeveld and Gregory F Meyers and Jim Ciston and Colin Ophus and Andrew M Minor},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.07076},
year = {2021}
}