介子屏蔽质量从虚化学势到实化学势的外推

我们首先将计算 $\pi$ 与 $\sigma$ 介子屏蔽质量的公式推广至有限化学势 $\mu$ 的情形。随后考虑虚 $\mu$ 方法，这是一种从虚化学势（$\mu=i \mu_{\rm I}$）外推至实化学势（$\mu=\mu_{\rm R}$）的方法。基于纠缠 Polyakov 圈扩展 Nambu--Jona-Lasinio（EPNJL）模型在双味体系中的表现，讨论了该方法的可行性。作为示例，我们通过比较“方法中 $\mu_{\rm R}$ 处的屏蔽质量”与“直接在 $\mu_{\rm R}$ 处计算的屏蔽质量”，考察了虚 $\mu$ 方法对 $\pi$ 与 $\sigma$ 介子屏蔽质量的可靠性。最后我们提出了新的外推方法并确认了其效率。