从缺陷束缚态提取超导序参量的相位信息
超导电性
2017-10-26 v1 强关联电子
摘要
杂质束缚态及其准粒子散射可作为识别超导凝聚体配对态的灵敏探针。我们引入并讨论了缺陷束缚态准粒子干涉 (DBS-QPI) 成像技术，作为一种从磁性和非磁性杂质周围的态密度空间图中提取序参量对称性信息的工具。我们表明，杂质周围散射图案中包含的相位信息可提供超越传统 QPI 成像的有价值信息。通过相位参考傅里叶变换保留 QPI 图像的实部和虚部，从而在傅里叶变换中跟踪相位而不仅仅是幅度。我们进一步将 DBS-QPI 与其他已被提出用于利用 QPI 或缺陷散射来区分不同序参量对称性的方法进行了比较。
引用
@article{arxiv.1710.09088,
title = {Extracting phase information about the superconducting order parameter from defect bound states},
author = {Shun Chi and W. N. Hardy and Ruixing Liang and P. Dosanjh and Peter Wahl and S. A. Burke and D. A. Bonn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.09088},
year = {2017}
}