探索从泄漏 Berreman 模到连续域束缚态的路径
光学
2023-03-14 v1 科普物理
摘要
我们研究了极性介电薄膜（SiO2）中泄漏 Berreman 模通过薄金属层（金）的耦合，并展示了典型的正常模分裂特征。由于金的介电函数实部为非常大的负值，该分裂仅在极薄的耦合层中出现。相比之下，Berreman 模通过介电间隔层的耦合揭示了在损耗趋于零的极限下获得连续域束缚态（BIC）的新可能。结果表明，对称与反对称模的相应色散分支可以交叉。BIC 被证明出现于这些分支中损耗较低的一支上。事实上，BIC 对应于辐射损耗最小化的点。对于较厚层（间隔层与极性介电层），BIC 被证明出现在高阶色散分支上。BIC 的起源被追溯至由中心层中泄漏导模激发引起的法布里-珀罗型机制。
引用
@article{arxiv.2106.06725,
title = {Exploring the route from leaky Berreman modes to bound states in continuum},
author = {Ghanasyam Remesh and Pravin Vaity and Venu Gopal Achanta and Subhasish Dutta Gupta},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.06725},
year = {2023}
}